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System-level Reliability and Remaining Useful Life modeling for the reuse of RF chips // Modélisation de la fiabilité au niveau système et de la durée de vie utile résiduelle pour la réutilisation des puces RF
Nouvelles méthodologies d'analyse de l'impact des défauts cristallins sur les performances électriques des dispositifs de puissance SiC // New methodologies for analyzing the impact of crystal defects on the electrical performance of SiC power devices
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