Les besoins, dans le domaine de la caractérisation par microscopie électronique et faisceaux d’ions focalisés (FIB/SEM) en salle blanche, nécessitent le recrutement d'un(e) technicien(e). Vous serez intégré(e) à l'équipe de microscopie électronique inline du Laboratoire de Microscopie, Mesures et Défectivité du SMCP et travaillerez en horaires d’équipe semaine nuit.
Le candidat devra après une période de formationen journée aux équipements et logiciels de suivi de l’activité :
· Réaliser les observations et caractérisations par microscopie électronique à balayage à l’aide de faisceaux d’ions focalisés (FIB/SEM) sur les plaques de 200 ou 300 mm des lots de la salle blanche.
· Préparer les lames minces à partir de ces plaques pour faire ensuite réaliser (par les ingénieurs de l’équipe) ou réaliser soi-même les analyses par microscopie électronique en transmission (TEM) sur la plateforme de nano caractérisation (PFNC) du CEA-Leti. Ces étapes pourront également nécessiter l’utilisation d’équipements FIB/SEM de petits échantillons de la PFNC.
Rendre compte des résultats aux techniciens et ingénieurs procédés ou filières par la rédaction de rapports d’analyse.
En cliquant sur "JE DÉPOSE MON CV", vous acceptez nos CGU et déclarez avoir pris connaissance de la politique de protection des données du site jobijoba.com.