En horaires journée, vous intégrerez l'équipe Préparation d’échantillons et Microscopie électronique à balayage du Laboratoire de Microscopie, Mesures et Défectivité (L2MD) du SMCP. Dans ce cadre, après une période de formation, vous serez amené(e) à :
- Observer et caractériser des échantillons par microscopie électronique à balayage, après les avoir préparés en utilisant un large panel de techniques (clivage, polissage ionique, enrobage, sciage, et utilisation de faisceau d’ions focalisés - ou FIB, …)
- En utilisant l’équipement FIB, préparer des lames minces à partir d’échantillons, afin de faire ensuite réaliser les analyses par microscopie électronique en transmission (TEM), par une équipe dédiée sur la plateforme de nano-caractérisation (PFNC) du CEA-Leti.
- Revisiter les protocoles de préparation pour les nouveaux besoins du CEA-Leti, et participer au développement de nouvelles méthodologies de préparation d’échantillons (notamment le déploiement de solutions de préparation de lames minces automatiques).
Vous évoluerez dans un environnement dynamique et ambitieux, au sein d’une équipe bienveillante favorisant votre montée en compétences tout en bénéficiant d’un parc d’équipement en perpétuelle évolution et à visée d’excellence. Votre contribution technique s’inscrira dans la réalisation de projets d’envergure relatifs au développement industriel local et européen dans un contexte de souveraineté.
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