Contexte
L’arrivée de la 5G, et la transition prochaine vers la 6G, introduisent de nouveaux défis en matière de performance et de fiabilité des transistors RF. En fonction des applications RF visées, nos partenaires industriels explorent différentes options technologiques pour répondre à ces exigences de plus en plus pointues, incluant diverses plateformes CMOS (telles que le RFSOI ou le FinFET), ainsi que des technologies BiCMOS. Il est donc essentiel d’évaluer les atouts et les limites de chaque approche afin de déterminer celle qui est la mieux adaptée à une application donnée. Cela nécessite une compréhension approfondie du comportement électrique et de la fiabilité des transistors utilisés dans les amplificateurs de puissance (PA) et les amplificateurs à faible bruit (LNA) en conditions de fonctionnement RF.
Description du poste
Votretravail portera principalement sur la caractérisation RF de transistors MOSFET destinés aux amplificateurs de puissance pour les applications Wi-Fi et 5G/6G.Vous devrez également développer et mettre en œuvre de nouvelles méthodologies de test et d’instrumentation, notamment en ce qui concerne le vieillissement des transistors. Les mesures seront majoritairement réalisées sur tranche (wafer), sous pointes RF.
Avec le soutien d’un ingénieur en caractérisation RF,vous aurez pour missions :
* La mise en œuvre de la modélisation petit signal des transistors MOSFET à partir de mesures de paramètres S
* La caractérisation du vieillissement des transistors MOSFET en conditions de fonctionnement DC et RF
* La réalisation d’analyses physiques permettant d’expliquer les phénomènes de dégradation observés en lien avec les procédés technologiques utilisés
* La modélisation du vieillissement des transistors et son impact sur les paramètres électriques DC et RF (petit signal)
* Le développement de nouvelles méthodologies de caractérisation RF, incluant des signaux carrés AC, pertinents pour les applications numériques
* Le reporting régulier auprès des équipes projet afin d’interpréter les résultats obtenus et de proposer des leviers d’amélioration des composants
* L’évolution des bancs de test et le développement de logiciels de pilotage des instruments de mesure associés (type Agilent et Keysight)
Le projet sera mené en étroite collaboration avec des partenaires industriels.
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