En horaires journée, vous intégrerez l'équipe Préparation d’échantillons et Microscopie électronique à balayage du Laboratoire de Microscopie, Mesures et Défectivité (L2MD) du SMCP. Dans ce cadre, après une période de formation, vous serez amené(e) à :
* Caractériser des échantillons par microscopie électronique à balayage, après les avoir préparés en utilisant un large panel de techniques (clivage, polissage ionique, enrobage, sciage, et utilisation de faisceau d’ions focalisés - ou FIB, …), puis rendre compte des résultats obtenus aux ingénieurs procédés ou filières par la rédaction de rapports et leur présentation.
* Préparer des lames minces à partir d’échantillons par FIB, afin de faire ensuite réaliser les analyses par microscopie électronique en transmission (TEM), par une équipe dédiée sur la plateforme de nano-caractérisation (PFNC) du CEA LETI.
* Revisiter les protocoles de préparation (MEB ou prépa TEM) pour les nouveaux besoins du Léti, et participer au développement de nouvelles méthodologies de préparation d’échantillons (notamment le déploiement de solutions de préparation de lames minces automatiques).
Outre l’activité principale décrite ci-dessus, le(la) candidat(e) participera également au développement et à l’optimisation de méthodes de préparation semi-automatique de lames minces par FIB, et à leur capitalisation pour l’ensemble de l’équipe. Il(Elle) s’attachera également à développer au sein de l’équipe des compétences MEB analytiques avancées (EDX, ECCI, EBSD, 3D…). Il(Elle) prendra ainsi part à la montée en compétence de l’équipe en déployant ces méthodes et protocoles.
Vous évoluerez dans un environnement dynamique et ambitieux, au sein d’une équipe bienveillante favorisant votre montée en compétences tout en bénéficiant d’un parc d’équipement en perpétuelle évolution et à visée d’excellence. Votre contribution technique s’inscrira dans la réalisation de projets d’envergure relatifs au développement industriel local et européen dans un contexte de souveraineté.
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