Responsabilités principales :
Développement de programmes de test ATE (V93K)
· Développer, déboguer et maintenir les programmes de test V93K SmarTest-8 pour le wafer sort et le test final.
· Définir la stratégie globale de test et les flux associés pour un silicium avancé.
· Intégrer les tests digitaux, mémoire, SerDes et fonctionnels dans des flux de production évolutifs.
· Optimiser le temps de test, la couverture, le yield et le coût.
Test des interfaces haut débit (PCIe Gen5 / D2D / HBM3E)
· Tester les PHY et contrôleurs PCIe Gen5.
· Tester les liens SerDes D2D haut débit.
· Tester les PHY et contrôleurs HBM3E.
· Mettre en œuvre : BERT, PRBS, loopback, margining.
· Réaliser des tests fonctionnels et stress tests à vitesse réelle.
Test de dispositifs haute puissance / haut courant
· Concevoir des séquences de test robustes pour composants à très fort courant.
· Définir les séquences d'alimentation, limites de courant et mécanismes de protection.
· Implémenter la surveillance dynamique du courant et la planification de tests sensibles à la puissance.
· Collaborer sur : conception load board, sockets haute intensité, intégrité de puissance et thermique.
Collaboration DFT & architecture de test
· Travailler avec les équipes DFT sur : scan hiérarchique/compressé, LBIST, MBIST, boundary scan.
· Contribuer à l'amélioration de la couverture, de l'observabilité et de la diagnosticabilité.
· Garantir l'alignement entre les fonctionnalités DFT et les capacités V93K.
Développement de tests fonctionnels embarqués
· Développer des tests fonctionnels embarqués exécutés sur : RISC-V interne, microcode, moteurs de test intégrés.
· Valider le fonctionnement complet du processeur IA à vitesse réelle.
· Tester : PCIe Gen5 (enumeration, training, transfert), D2D (initialisation, training, loopback), HBM3E (initialisation, training, réparation, bande passante).
· Corréler les résultats entre simulation, banc de test et environnement V93K.
Débogage silicium, yield & support production
· Déboguer les problèmes silicium en phases early silicon, caractérisation et production.
· Réaliser analyses de yield, clustering de défaillances et optimisation des limites de test.
· Conduire les améliorations de test : couverture, temps, yield learning.
· Supporter la montée en volume (HVM) avec les OSAT.
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