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Design of fault injection models within pre-silicon security methodologies h/f

Saclay
Stage
Cea
Design
Publiée le 7 décembre
Description de l'offre

Le CEA est un acteur majeur de la recherche, au service des citoyens, de l'économie et de l'Etat.

Il apporte des solutions concrètes à leurs besoins dans quatre domaines principaux : transition énergétique, transition numérique, technologies pour la médecine du futur, défense et sécurité sur un socle de recherche fondamentale. Le CEA s'engage depuis plus de 75 ans au service de la souveraineté scientifique, technologique et industrielle de la France et de l'Europe pour un présent et un avenir mieux maîtrisés et plus sûrs.

Implanté au coeur des territoires équipés de très grandes infrastructures de recherche, le CEA dispose d'un large éventail de partenaires académiques et industriels en France, en Europe et à l'international.

Les 20 000 collaboratrices et collaborateurs du CEA partagent trois valeurs fondamentales :

- La conscience des responsabilités
- La coopération
- La curiosité µArchiFI [2,3] is one of these pre-silicon tools, it constructs a formal transition system from a Verilog processor description, a binary program, and an attacker model that encodes the fault model. However, the fault models used by µArchiFI do not incorporate layout information. Analyses are performed at the Register Transfer Level (RTL) and can evaluate a wide range of fault models (bit/word set, reset, flip, and symbolic behaviors) on signals selected individually. In a real fault attack scenario, for instance, using a laser source as the fault injection tool, it may hit different bits of the same signal or of different signals.

Goals

The internship objective is to enhance µArchiFI with new fault models so that signals that are affected by the laser beam are selected according to laser-spot location regarding the circuit layout. This requires: 1) integrating layout information and location constraints into the fault models, 2) modelling the laser beam's Gaussian profile to select signals that fall within the beam surface as studied in [4] and illustrated in the Figures at the end of the document. These enhanced fault models will be used to rerun security verifications over processor designs already analyzed by µArchiFI. The obtained results will be compared with state-of-the-art experimental characterizations and against previous results produced by µArchiFI, in particular to benchmark the time it take to perform verification. Additional fault models exploring whether other types of information, such as circuit timing, can be leveraged to capture specific injection means such as clock glitching.

References

[1] CEA List, Pre-silicon tools for security assessment against fault-injection attacks. https://list.cea.fr/fr/prendre-en-compte-les-vulnerabilites-micro-architecturales-dans-lanalyse-de-robustesse-des-systemes-securises-contre-linjection-de-fautes/
[2] µArchiFI: a pre-silicon tool to assess the robustness of HW/SW systems against fault-injection attacks. Available: https://github.com/CEA-LIST/uArchiFI
[3] Simon Tollec et al. : ArchiFI: Formal Modeling and Verification Strategies for Microarchitectural Fault Injections. FMCAD 2023.
[4] Standard CAD Tool-Based Method for Simulation of Laser-Induced Faults in Large-Scale Circuits. PhD Raphael Viera, 2018. https://theses.fr/2018MONTS072

#CEA-List

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