Fiabilité et propriétés dynamiques des MOS-HEMT GaN: impact de la barrière enterrée et du type de substrat. // Reliability and dynamic properties of GaN high electron mobility transistors: backbarrier and substrate type impact
Systèmes de maintenance prédictive basés sur l’acoustique et les ultrasons pour les équipements industriels // Acoustic and Ultrasound-based Predictive Maintenance Systems for Industrial Equipment
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